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黄宇博士是华为半导体科学家,海思EDA首席架构师和EDA实验室主任。曾任美国Mentor Graphics Sr. Key Expert,研究领域包括VLSI SoC测试,压缩,诊断,良率分析、机器学习和AI芯片。获得美国爱荷华大学电子和计算机工程博士学位,拥有70+项专利,并发表140多篇国际论文。他是IEEE高级会员,曾担任DAC,ITC,VTS,ATS,ETS,ASPDAC,NATW等多个国际会议的组委会委员,他也是中国复旦大学微电子学院和西电微电子学院的兼职教授和企业博导。
- AI+EDA的发展现状与问题
- 高性能计算在EDA中的应用
- 新工艺节点驱动的EDA
- EDA工具融合的趋势与挑战
随着芯片工艺制程的演进,芯片集成度越来越高、功能越来越复杂。在芯片前期设计阶段,工程师们会不断改进设计进行优化迭代,成百上千台终端同时进行设计,会产生数百万个小文件的密集读写,对存储的随机IOPS要求极高。而在后期测试验证阶段,无数小文件需要汇总到大文件中,再由EDA软件进行模拟仿真,这个过程将产生极大的计算工作负载。
近几年,随着AI和高性能计算的快速发展,如何将AI和高性能计算应用到芯片设计成为半导体行业的热门话题。AI与EDA的融合,有望将开发者从重复性的芯片设计、验证和测试等任务中解放出来,提升芯片设计效率。高性能计算则凭借强大的并行计算特性,能够为EDA的模拟仿真提供强大的计算支持,突破EDA计算瓶颈,缩短芯片设计周期。而新的工艺节点以及EDA工具左移融合的发展趋势,也将不断驱动EDA向前发展。
8月15日19:30,「国产EDA技术公开课」第一讲将开讲,由海思EDA首席架构师黄宇主讲,主题为《EDA前沿技术洞察》。
此次直播,黄宇博士将讲解AI for EDA、HPC for EDA的应用前景和发展现状,并解读新工艺节点驱动以及EDA工具融合的趋势和挑战。
